《Cortex》：Predictive value in memory evaluation of the temporal mesial afterdischarges induced by electrical stimulations in stereoelectroencephalography
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為評估癲癇患者手術前后記憶狀況，研究人員對比立體腦電圖（SEEG）中電刺激（ES）誘發顳葉內側后放電（ADs）時患者記憶任務表現與神經心理學評估（NPA）結果，發現二者存在關聯，ADs 表現可輔助術前記憶評估，為術前評估提供新方法。
在癲癇治療領域，顳葉癲癇（Temporal Lobe Epilepsy，TLE）是個棘手的問題。它約占局灶性癲癇的三分之二，還是耐藥性最強的癲癇類型。目前，手術是治療耐藥性 TLE 的主要手段，但術后并發癥多種多樣，其中神經心理學方面的損傷，尤其是記憶功能的變化，備受關注。比如，主導半球 TLE 手術患者中有 44% 出現言語記憶下降，非主導半球手術患者也有 20% 出現類似情況；而在視覺記憶方面，兩側手術后均有 20% 左右的患者出現惡化。
為了更好地評估 TLE 手術后的記憶衰退情況，找到可靠的預測指標就顯得尤為重要。以往的 Wada 測試，由于其具有侵入性且結果有時難以解釋，自 21 世紀初以來已被許多癲癇手術團隊棄用。雖然它仍是公認的評估語言和記憶的金標準，但使用起來有諸多不便。功能磁共振成像（Functional Magnetic Resonance Imaging，fMRI）現在廣泛用于評估記憶和預測術后記憶衰退，不過它也存在不少局限，像海馬體體積小、磁共振成像（Magnetic Resonance Imaging，MRI）顯示的顳葉內側結構異質性、靜息狀態下顳葉內側結構的大量激活干擾評估，以及測試團隊的技術水平差異等問題。在這樣的背景下，研究人員急需尋找一種更有效的方法來解決這些難題。
來自雷恩大學醫院癲癇手術科的研究人員開展了一項研究，試圖探索新的記憶評估方法。他們將 SEEG 中 ES 誘發顳葉內側 ADs 時患者的記憶任務表現，與術前 NPA 結果進行對比，并評估 ES 期間記憶任務對術后記憶衰退的預測價值。研究成果發表在《Cortex》雜志上。
研究人員采用的關鍵技術方法主要有：收集 1998 年至 2022 年雷恩大學醫院癲癇手術科接受 SEEG 的患者數據，這些患者均植入了雙側顳葉內側結構電極。在患者顳葉內側出現 ADs 時，讓他們完成物體回憶、物體再認以及判斷是否存在時空定向障礙等記憶任務，并記錄結果；同時獲取患者術前 NPA 的記憶評分數據。
研究結果如下：
- 患者基本信息：共納入 65 名患者，平均年齡 31.3 歲，其中女性 35 名，男性 30 名。55 人右利手，8 人左利手，2 人雙手通用。24 名患者在 SEEG 后接受了手術，兩次操作間隔平均為 6.5 個月。
- NPA 與 ADs 期間記憶表現的相關性：NPA 結果與非優勢半球 ADs 期間記憶表現，在回憶閾值為 0.33 時，相關性接近顯著（p = 0.05）；與優勢半球 ADs 期間記憶表現，在回憶閾值為 0.25 時，相關性接近顯著（p = 0.06）。這表明二者之間存在一定關聯。
- ADs 對術后記憶結果的預測價值：對于接受手術的患者，當閾值為 0.75 時，同側 ADs 期間記憶表現對術后記憶結果的預測價值顯著（p = 0.028）。說明 ADs 期間的記憶表現能夠在一定程度上預測術后的記憶情況。
研究結論和討論部分指出，本研究將 SEEG 中 ES 誘發顳葉內側 ADs 時的記憶測試，類比為 “電 Wada 測試”。結果顯示，至少 10 秒的 ADs 持續時間足以用于解釋測試結果。而且，顳葉內側 ADs 期間的記憶任務與 NPA 結果存在一定相關性，可作為術前記憶評估的額外工具。不過，該方法在識別記憶缺陷方面，相較于 NPA 敏感性稍低。這一研究成果意義重大，為癲癇手術前的記憶評估提供了新的思路和方法，盡管目前還需要進一步的專項研究來驗證其在手術中更可靠的應用，但它已經為癲癇治療領域帶來了新的希望，有助于醫生更精準地評估患者手術前后的記憶狀況，為制定更合理的治療方案提供參考依據。
